據(jù)悉，由中國(guó)科學(xué)院自動(dòng)化所譚杰研究員等人研究發(fā)明的“Method and Apparatus for Testing the Performance of Radio Frequency Identification System”（PCT專利號(hào)：PCT/CN2010/002054、美國(guó)專利號(hào):13/143,041）日前在美國(guó)獲得授權(quán)。該發(fā)明專利于2010年通過(guò)申請(qǐng)國(guó)際PCT途徑，于2011年申請(qǐng)進(jìn)入美國(guó)。它是自動(dòng)化所首個(gè)通過(guò)國(guó)際PCT的途徑在美國(guó)獲得授權(quán)的專利。
　　
　　該發(fā)明專利是高速運(yùn)動(dòng)電子標(biāo)簽的射頻應(yīng)用系統(tǒng)性能的測(cè)試系統(tǒng)和方法，由讀寫器發(fā)射天線、頻譜分析儀接收天線、待測(cè)電子標(biāo)簽、讀寫器天線支架、待測(cè)讀寫器、頻譜分析儀、控制計(jì)算機(jī)、驅(qū)動(dòng)電機(jī)控制器、驅(qū)動(dòng)電機(jī)、轉(zhuǎn)盤、防護(hù)罩、支撐臺(tái)組成，其方法是通過(guò)驅(qū)動(dòng)電機(jī)帶動(dòng)轉(zhuǎn)盤，使固接在轉(zhuǎn)盤上的待測(cè)電子標(biāo)簽以高速運(yùn)動(dòng)，利用電子標(biāo)簽在轉(zhuǎn)盤切線方向的速度來(lái)模擬實(shí)際應(yīng)用中電子標(biāo)簽直線運(yùn)動(dòng)速度，從而科學(xué)的、可重復(fù)的對(duì)電子標(biāo)簽在高速運(yùn)動(dòng)狀態(tài)下的RFID應(yīng)用系統(tǒng)性能進(jìn)行評(píng)價(jià)。
　　
　　隨著RFID的應(yīng)用規(guī)模越來(lái)越大，RFID天線和讀寫器的品種越來(lái)越多，為了在眾多的RFID讀寫器和標(biāo)簽中選擇最符合使用者需求的產(chǎn)品，需要對(duì)RFID產(chǎn)品的性能指標(biāo)進(jìn)行專門的測(cè)試。在智能停車場(chǎng)、高速公路不停車收費(fèi)等實(shí)際應(yīng)用中，RFID讀寫器和標(biāo)簽之間存在快速相對(duì)運(yùn)動(dòng)。傳統(tǒng)高速運(yùn)動(dòng)狀態(tài)下RFID產(chǎn)品性能測(cè)試系統(tǒng)和方法存在占用空間大、建設(shè)成本高、實(shí)驗(yàn)過(guò)程不穩(wěn)定等缺點(diǎn)。針對(duì)傳統(tǒng)方法的缺點(diǎn)，該項(xiàng)專利提出的一種電子標(biāo)簽在高速運(yùn)動(dòng)狀態(tài)下的RFID應(yīng)用系統(tǒng)性能基準(zhǔn)測(cè)試系統(tǒng)及方法，該系統(tǒng)和方法能在測(cè)試過(guò)程中較好的還原真實(shí)測(cè)試場(chǎng)景。為使用者提供一種簡(jiǎn)單、明確、有效的自動(dòng)化測(cè)試工具和基準(zhǔn)測(cè)試方法，用以在可重復(fù)條件下快速評(píng)價(jià)電子標(biāo)簽處于高速運(yùn)動(dòng)狀態(tài)應(yīng)用場(chǎng)景中RFID應(yīng)用系統(tǒng)性能，從而為使用者設(shè)備選型提供決策參考。
　　
　　作為物聯(lián)網(wǎng)的核心技術(shù)之一，RFID技術(shù)有廣闊的應(yīng)用前景和巨大的應(yīng)用價(jià)值。RFID性能測(cè)試設(shè)備和技術(shù)能為用戶設(shè)備選型提供決策參考，是RFID技術(shù)實(shí)際應(yīng)用的基礎(chǔ)。該項(xiàng)專利提出的系統(tǒng)及方法能夠?yàn)橛脩籼峁┮环N簡(jiǎn)單、明確、有效的自動(dòng)化測(cè)試方式。有助于提升我國(guó)在RFID領(lǐng)域自主創(chuàng)新能力，支撐我國(guó)高技術(shù)產(chǎn)業(yè)與新興產(chǎn)業(yè)發(fā)展的技術(shù)領(lǐng)域，符合資助管理辦法。
　　
　　該項(xiàng)專利已經(jīng)在中國(guó)和美國(guó)都取得正式授權(quán)，增強(qiáng)了我國(guó)在RFID性能測(cè)試方面的競(jìng)爭(zhēng)力，完善了我國(guó)RFID測(cè)試技術(shù)專利池，為將來(lái)參與RFID國(guó)際測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)制定爭(zhēng)取了更多話語(yǔ)權(quán)。